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Title: Proceso automático para la medida de las reflectancias. 1.-Descripción preliminar
Author: Besteiro, J.
Vendrell Saz, Màrius
López Soler, Ángel
Bosch Figueroa, J. M.
Font-Altaba, M. (Manuel), 1922-2005
Keywords: Microscòpia
Refracció
Microscopy
Refraction
Issue Date: 1974
Publisher: Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)
Abstract: Para el cálculo de las constantes fsicas n, k, a partir de las medidas de reflectancia en dos medios de índice de refracción conocido y diferente, se necesita emplear criterios estadísticos, lo que obliga a obtener gran cantidad de datos experimentales y por consiguiente el cálculo es muy laborioso. Se describe el método automàtico utilizado para la simplificación de estas operaciones que permiten realizar dichos cálculos en gran rapidez.
Note: Reproducció del document publicat a http://www.raco.cat/index.php/ActaGeologica/article/view/74834/
It is part of: Acta Geologica Hispanica, 1974, vol. IX, num. 5, p. 149-150
URI: https://hdl.handle.net/2445/18182
ISSN: 0567-7505
Appears in Collections:Articles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada)

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