Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dipositint.ub.edu/dspace/handle/2445/18189| Title: | Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos |
| Author: | Vendrell Saz, Màrius López Soler, Ángel |
| Keywords: | Difracció Refracció Diffraction Refraction |
| Issue Date: | 1979 |
| Publisher: | Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA) |
| Abstract: | Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion. |
| Note: | Reproducció del document publicat a http://www.raco.cat/index.php/ActaGeologica/article/view/74980 |
| It is part of: | Acta Geologica Hispanica, 1979, vol. 14, p. 71-74 |
| URI: | https://hdl.handle.net/2445/18189 |
| ISSN: | 0567-7505 |
| Appears in Collections: | Articles publicats en revistes (Mineralogia, Petrologia i Geologia Aplicada) |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.